Osamura K., Hojo M., Sugano M., Wada H., Itoh K., Kitaguchi H., Kumakura H., Ochiai S., Kuroda T., Okuda H.
Osamura K., Takahashi K., Nishijima G., Awaji S., Watanabe K., Suzuki H., Oguro H., Machiya S., Tsuchiya Y.
Osamura K., Hojo M., Sugano M., Wada H., Itoh K., Kitaguchi H., Kumakura H., Ochiai S., Kuroda T., Okuda H.
Ключевые слова: HTS, Bi2223, tapes, mechanical properties, bending process, critical caracteristics, critical current distribution, modeling, numerical analysis
Ключевые слова: HTS, Bi2223/Ag, tapes, mechanical properties, tensile tests, measurement technique, stress effects, strain effects
Ключевые слова: HTS, YBCO, mechanical properties, strain effects, coated conductors, measurement technique, synchrotron
Iijima Y., Osamura K., Sugano M., Nagaya S., Saitoh T., Shiohara Y., Aoki Y., Hasegawa T., Kato T., Yamada Y., Nakao K., Ibi A., Nakashima N.
Osamura K., Hojo M., Nyilas A., Sugano M., Akita S., Matsushita T., Wada H., Larbalestier D., Ochiai S., Machiya S., Prusseit W.*10*, Otto A.*11*Hampshire D.*12
Ключевые слова: HTS, Bi2223, tapes, YBCO, coated conductors, review, critical caracteristics, critical current, critical current density, neutron diffraction, Jc/B curves, voltage, fluctuations, magnetic field dependence, mechanical properties, elastic behavior, stress effects, strain effects, tensile tests, measurement technique
Osamura K., Hojo M., Mimura M., Ochiai S., Sato M., Okuda H., Shin J.K., Iwamoto S., Mukai Y., Matsubayashi H.
Osamura K., Otto A., Malozemoff A., Ochiai S., Okuda H., Shin J.K., Mukai Y., Matsubayashi H., Arai T.
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.
Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ru
Техническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.